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當前位置：首頁 > 產品中心 > 植保保護提升工程儀器清單 > 農業(yè)儀器 > TZS-II土壤水分測量儀表層根系于產量關系
詳細介紹
從大量土壤水分測量儀結果分析發(fā)現，水稻根系分布比其他作物分布較淺，我們可以發(fā)現大量的根系分布在0-20cm淺層土層中。水稻不同生長期不同層次根系對生長和產量的形成起不同作用,因此在水稻超高產育種和栽培中十分重視根系構建。對不同層次根系的研究中,有人認為深層根對高產形成很重要,有人認為中后期形成的根系與水稻產量關系更密切,尤其是齊穗期。水稻根系生長與活力和土壤水分狀況密切相關,然而水稻水分狀況對表層根系影響研究尚少。
土壤水分測量儀測得水分脅迫對水稻表層根的影響及表層根系對水稻產量的影響與品種有關,本實驗兩個品種輕度水分脅迫對水稻表層根系無明顯影響,重度水分脅迫不利于水稻表層根生長。表層根量與產量相關性較高，但總體趨勢是輕度水分脅迫下表層根量多,產量高,重度水分脅迫使表層根量減少,其產量也減少。重度水分脅迫下,表層根量下降幅度大，產量下降幅度也大。穗分化期切根對產量的影響要大于開花期,這與切斷水稻深層根系的影響*。這可能與花后表層根系開始減少有關,這也是生產中穗分化期不宜缺水的原因之一。
儀器型號：TZS-II
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