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冠層分析儀的原理特點(diǎn)介紹

更新時(shí)間:2023-02-02      點(diǎn)擊次數(shù):940
  冠層分析儀可以同時(shí)測量光合有效輻射(PAR)和葉面積指數(shù)(LAI)。光合有效輻射(PAR)和葉面積指數(shù)(LAI)是評估植物健康狀況和植物冠層結(jié)構(gòu)的重要指標(biāo)。PAR表示有多少光能可被植物光合作用利用;LAI可用于估計(jì)冠層密度和生物量,是植物冠層結(jié)構(gòu)的一項(xiàng)重要表征參數(shù)。儀器出廠前經(jīng)過校驗(yàn),校驗(yàn)值儲存于內(nèi)存中,故在使用過程中無須校驗(yàn)。目前,被廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、林業(yè)和植物學(xué)等研究領(lǐng)域。
 
  冠層分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律,在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下,采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式,通過冠層孔隙率的測定,計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下,本儀器采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法,該方法是各類方法中省力、省時(shí)、快捷方便的方法。
 
  儀器為一體化設(shè)計(jì),包括液晶顯示屏、操作按鍵、存儲SD卡及測量探桿等。儀器菜單操作簡單,體積小,攜帶方便。存儲介質(zhì)為市場上通用的SD卡,存儲容量大,數(shù)據(jù)管理方便!在功耗上有合理的電源管理方案,測試過程中儀器根據(jù)實(shí)際情況自動進(jìn)入待機(jī)狀態(tài),需要時(shí)按喚醒鍵即可喚醒屏幕,觀察實(shí)際數(shù)據(jù)。測量方式分為自動和手動兩種。自動測量時(shí)間間隔1分鐘,自動測量次數(shù)達(dá)99次,手動測量根據(jù)實(shí)際需要手動采集即可。
 
  冠層分析儀引入到農(nóng)業(yè)科研當(dāng)中,使得分析植物冠層結(jié)構(gòu)成為了可能,更好的優(yōu)化植物群體冠層結(jié)構(gòu),提高植物的光能利用,達(dá)到增產(chǎn)增收的效果,對現(xiàn)代農(nóng)業(yè)的發(fā)展起到了重要的推動作用。
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